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Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures
Andreas Rosenauer (Broschiert, Englisch)
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Beschreibung
This book provides tools well suited for the quantitative investigation of semiconductor electron microscopy. These tools allow for the accurate determination of the composition of ternary semiconductor nanostructures with a spatial resolution at near atomic scales. The book focuses on new methods including strain state analysis as well as evaluation of the composition via the lattice fringe… analysis (CELFA) technique. The basics of these procedures as well as their advantages, drawbacks and sources of error are all discussed. The techniques are applied to quantum wells and dots in order to give insight into kinetic growth effects such as segregation and migration. In the first part of the book the fundamentals of transmission electron microscopy are provided. These are needed for an understanding of the digital image analysis techniques described in the second part of the book. There the reader will find information on different methods of composition determination. The third part of the book focuses on applications such as composition determination in InGaAs Stranski--Krastanov quantum dots. Finally it is shown how an improvement in the precision of the composition evaluation can be obtained by combining CELFA with electron holography. This is demonstrated for an AlAs/GaAs superlattice. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Erscheinungsdatum
20.11.2013
Sprache
Englisch
EAN
9783662146187
Herausgeber
Springer Berlin
Serien- oder Bandtitel
Springer Tracts in Modern Physics
Sonderedition
Nein
Autor
Andreas Rosenauer
Seitenanzahl
241
Einbandart
Broschiert
Buch Untertitel
An Analysis of Composition and Strain State
Schlagwörter
Composition determination, Quantum dots and quantum wells, Segregation, Ternary semiconductor nanostructures, electron microscopy, holography, microscopy, transmission electron microscopy
Thema-Inhalt
PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik)
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
PDD - Wissenschaftliche Standards, Normung usw.
TGMT - Werkstoffprüfung
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com
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