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High Performance Memory Testing

R. Dean Adams (Gebundene Ausgabe, Englisch)

Optischer Zustand
Beschreibung
Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully. High Performance Memory Testing: Design…  Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
30.09.2002
Sprache
Englisch
EAN
9781402072550
Herausgeber
Springer US
Serien- oder Bandtitel
Frontiers in Electronic Testing
Sonderedition
Nein
Autor
R. Dean Adams
Seitenanzahl
250
Auflage
2003
Einbandart
Gebundene Ausgabe

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