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EM Wave Propagation Analysis in Plasma Covered Radar Absorbing Material

Hema Singh, Simy Antony, Harish Singh Rawat (Broschiert, Englisch)

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Beschreibung
This book focuses on EM propagation characteristics within multilayered plasma-dielectric-metallic media. The method used for analysis is impedance transformation method. Plasma covered radar absorbing material is approximated as a multi-layered dielectric medium. The plasma is considered to be bounded homogeneous/inhomogeneous medium. The reflection coefficient and hence return loss is analytically derived. The role of plasma parameters, such as electron density, collision frequency, plasma thickness, and plasma density profile in the absorption behavior of multi-layered plasma-RAM structure is described. This book provides a clearer picture of EM propagation within plasma. The reader will get an insight of plasma parameters that play significant role in deciding the absorption characteristics of plasma covered surfaces.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
06.09.2016
Sprache
Englisch
EAN
9789811022685
Herausgeber
Springer Singapore
Serien- oder Bandtitel
SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
Sonderedition
Nein
Autor
Hema Singh, Simy Antony, Harish Singh Rawat
Seitenanzahl
43
Auflage
1
Einbandart
Broschiert
Schlagwörter
Plasma, Electromagnetic wave propagation, Radar absorbing material (RAM), Reflection loss, Absorption, Stealth
Thema-Inhalt
TJF - Elektronik PHK - Elektrizität, Magnetismus und Elektromagnetismus
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

Warnhinweise und Sicherheitsinformationen

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