Technische Daten
Erscheinungsdatum
31.05.2000
Herausgeber
Springer Wien
Serien- oder Bandtitel
CISM International Centre for Mechanical Sciences
Schlagwörter
Bildverarbeitung, Image Processing, Mechanics, Mechanik, Mustererkennung / Physics, Optics, Optik, Pattern Recognition, Physik, Spectrometry, Spectroscopy, Spektroskopie, digital image processing, elasticity, experiment, holography, image processing, interferometry, mechanics, metrology, optics, pattern, pattern recognition, Speckle, spectrometry, spectroscope, spectroscopy
Thema-Inhalt
PHJL - Laserphysik
PHD - Klassische Mechanik
PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik)
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
UYQV - Maschinelles Sehen, Bildverstehen
UYQP - Mustererkennung
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