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Beschreibung
This book provides an overview of the application of statistical methods to problems in metrology, with emphasis on modelling measurement processes and quantifying their associated uncertainties. It covers everything from fundamentals to more advanced special topics, each illustrated with case studies from the authors' work in the Nuclear Security Enterprise (NSE). The material provides readers with a solid understanding of how to apply the techniques to metrology studies in a wide variety of contexts. The volume offers particular attention to uncertainty in decision making, design of experiments (DOEx) and curve fitting, along with special topics such as statistical process control (SPC), assessment of binary measurement systems, and new results on sample size selection in metrology studies. The methodologies presented are supported with R script when appropriate, and the code has been made available for readers to use in their own applications. Designed to promote collaboration between statistics and metrology, this book will be of use to practitioners of metrology as well as students and researchers in statistics and engineering disciplines.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
02.12.2021
Sprache
Englisch
EAN
9783030533311
Herausgeber
Springer International Publishing
Sonderedition
Nein
Autor
Stephen Crowder, Collin Delker, Eric Forrest, Nevin Martin
Seitenanzahl
347
Einbandart
Broschiert
Schlagwörter
International System of Units, measurement standards, traceability chain, uncertainty analysis, propagation or error, design of experiments, ANOVA, binary measurement systems
Thema-Inhalt
PBT - Wahrscheinlichkeitsrechnung und Statistik PDD - Wissenschaftliche Standards, Normung usw. THR - Elektrotechnik TGB - Maschinenbau
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Transparenz & Sicherheit

Hersteller: Palgrave Macmillan, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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