Technische Daten
Erscheinungsdatum
24.02.2022
Herausgeber
Springer International Publishing
Serien- oder Bandtitel
SpringerBriefs in Physics
Autor
Parmod Kumar, Jitendra Pal Singh, Vinod Kumar, K. Asokan
Schlagwörter
Ion Irradiation, Defect creation, Ion Implantation, Oxide materials for sensing, Defects in Oxide Materials, Electron Paramagnetic Resonance, Spectroscopic Techniques, X-ray Absorption Spectroscopy, Oxide materials for spintronics, Defect induced properties of oxides, Defect production with ion beam
Thema-Inhalt
PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik)
TGM - Materialwissenschaft
PN - Chemie
TGMM - Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien
PH - Physik
PHJ - Optische Physik
TJFD - Elektronische Geräte und Materialien
Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH
Warnhinweise und Sicherheitsinformationen
Informationen nach EU Data Act