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Beschreibung
This book presents commonly applied characterization techniques in material science, their brief history and origins, mechanism of operation, advantages and disadvantages, their biosensing applications, and troubleshooting for each technique, while addressing the challenges researchers face when working with these techniques. The book dedicates its focus to identifying physicochemical and electrochemical nature of materials including analyses of morphology, mass spectrometry, and topography, as well as the characterization of elemental, structural, thermal, wettability, electrochemical, and chromatography properties. Additionally, the main features and benefits of using coupled characterization techniques are discussed in this book.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
16.02.2022
Sprache
Englisch
EAN
9789811695681
Herausgeber
Springer Singapore
Serien- oder Bandtitel
Progress in Optical Science and Photonics
Sonderedition
Nein
Autor
Euth Ortiz Ortega, Hamed Hosseinian, Ingrid Berenice Aguilar Meza, María José Rosales López, Andrea Rodríguez Vera, Samira Hosseini
Seitenanzahl
305
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Schlagwörter
Optical Microscopy, Scanning Electron Microscopy (SEM), Transmission Electron Microscopy Analysis (TEM), MALDI-TOF Spectrometry, Atomic Force Microscopy (AFM), RAMAN Spectroscopy, Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR), X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), DRIFT Spectroscopy, Thermal Gravimetric Analysis (TGA), Wettability Analysis, Electrochemical Impedance Spectroscopy (EIS), High-Performance Liquid Chromatography (HPLC)
Thema-Inhalt
PHJ - Optische Physik PDN - Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken TGMT - Werkstoffprüfung PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie TGM - Materialwissenschaft
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Transparenz & Sicherheit

Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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