Technische Daten
Erscheinungsdatum
16.02.2022
Herausgeber
Springer Singapore
Serien- oder Bandtitel
Progress in Optical Science and Photonics
Autor
Euth Ortiz Ortega, Hamed Hosseinian, Ingrid Berenice Aguilar Meza, María José Rosales López, Andrea Rodríguez Vera, Samira Hosseini
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Schlagwörter
Optical Microscopy, Scanning Electron Microscopy (SEM), Transmission Electron Microscopy Analysis (TEM), MALDI-TOF Spectrometry, Atomic Force Microscopy (AFM), RAMAN Spectroscopy, Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR), X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), DRIFT Spectroscopy, Thermal Gravimetric Analysis (TGA), Wettability Analysis, Electrochemical Impedance Spectroscopy (EIS), High-Performance Liquid Chromatography (HPLC)
Thema-Inhalt
PHJ - Optische Physik
PDN - Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken
TGMT - Werkstoffprüfung
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
TGM - Materialwissenschaft
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