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Material Characterization using Electron Holography

Daisuke Shindo, Takeshi Tomita (Gebundene Ausgabe, Englisch)

Optischer Zustand
Beschreibung
Material Characterization using Electron Holography Exploration of a unique technique that offers exciting possibilities to analyze electromagnetic behavior of materials Material Characterization using Electron Holography addresses how the electromagnetic field can be directly visualized and precisely interpreted based on Maxwell?s equations formulated by special relativity, leading to the understanding of electromagnetic properties of advanced materials and devices. In doing so, it delivers a unique route to imaging materials in higher resolution. The focus of the book is on in situ observation of electromagnetic fields of diverse functional materials. Furthermore, an extension of electron holographic techniques, such as direct observation of accumulation and collective motions of electrons around the charged insulators, is also explained. This approach enables the reader to develop a deeper understanding of functionalities of advanced materials. Written by two highly qualified authors with extensive first-hand experience in the field, Material Characterization using Electron Holography covers topics such as: * Importance of electromagnetic fields and their visualization, Maxwell?s equations formulated by special relativity, and de Broglie waves and wave functions * Outlines of general relativity and Einstein?s equations, principles of electron holography, and related techniques * Simulation of holograms and visualized electromagnetic fields, electric field analysis, and in situ observation of electric fields * Interaction between electrons and charged specimen surfaces and interpretation of visualization of collective motions of electrons For materials scientists, analytical chemists, structural chemists, analytical research institutes, applied physicists, physicists, semiconductor physicists, and libraries looking to be on the cutting edge of methods to analyze electromagnetic behavior of materials, Material Characterization using Electron Holography offers comprehensive coverage of the subject from authoritative and forward-thinking topical experts.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
02.11.2022
Sprache
Englisch
EAN
9783527348046
Herausgeber
Wiley-VCH
Sonderedition
Nein
Autor
Daisuke Shindo, Takeshi Tomita
Seitenanzahl
240
Auflage
1
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Autorenporträt
Daisuke Shindo is Team Leader, RIKEN Center for Emergent Matter Science and Professor Emeritus, Tohoku University. He is Fellow of the Japan Institute of Metals and Materials, and also Fellow of Korean Society of Microscopy. He has been involved in high-resolution electron microscopy and analytical electron microscopy for microstructure characterization of various materials for more than 30 years. He is currently interested in electromagnetic-field observation of advanced materials by electron holography of collective motions of electrons through electromagnetic field variations.
Schlagwörter
Chemie, Chemistry, Electrical & Electronics Engineering, Electronic Materials, Elektronenholographie, Elektronische Materialien, Elektrotechnik u. Elektronik, Materials Characterization, Materials Science, Materialwissenschaften, Microscopy, Mikroskopie, Werkstoffprüfung
Thema-Inhalt
TGMT - Werkstoffprüfung
Höhe
244 mm
Breite
17 cm

Transparenz & Sicherheit

Hersteller: Wiley-VCH GmbH, Boschstrasse 12, Weinheim, Deutschland, 69469, product_safety@wiley.com, Wiley-VCH GmbH

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