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Defects and Diffusion in Semiconductors XII

David J Fisher (Broschiert, Englisch)

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Optischer Zustand
Beschreibung
This twelfth volume in the series covering the latest results in the field includes abstracts of papers which have appeared since the publication of Annual Retrospective XI (Volume 282). As well as the 565 semiconductor-related abstracts, the issue includes – in line with the policy of including original papers on all of the major material groups.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
11.08.2010
Sprache
Englisch
EAN
9783908451877
Herausgeber
Trans Tech
Serien- oder Bandtitel
Defect and Diffusion Forum
Sonderedition
Nein
Autor
David J Fisher
Seitenanzahl
404
Einbandart
Broschiert
Bandzählung
303-304
Schlagwörter
Aluminium-Zinc Alloys, Carbide Precipitate, Crack Growth, Defect Centers, Diffusion, Electrodeposited Alloys, Electron Paramagnetic Resonance (EPR), Finite Element Model (FEM), HV Values, Liquid State, Metallic Material, Natural Aging, Ni3+, Non-Gaussian
Thema-Inhalt
TGM - Materialwissenschaft
Höhe
240 mm
Breite
17 cm

Warnhinweise und Sicherheitsinformationen

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