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Der Umwelt zuliebe
A Practical Guide to Optical Metrology for Thin Films
Michael Quinten (Broschiert, Englisch)
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Optischer Zustand
Beschreibung
A one-stop, concise guide on determining and measuring thin film thickness by optical methods.
This practical book covers the laws of electromagnetic radiation and interaction of light with matter, as well as the theory and practice of thickness measurement, and modern applications. In so doing, it shows the capabilities and opportunities of optical thickness determination and discusses the Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
15.10.2012
Sprache
Englisch
EAN
9783527411672
Herausgeber
Wiley-VCH
Sonderedition
Nein
Autor
Michael Quinten
Seitenanzahl
218
Einbandart
Broschiert
Autorenporträt
Dr. Michael Quinten works as Head of Research and Development Sensors at FRT GmbH in Bergisch Gladbach, Germany. Having obtained his diploma degree and Ph. D. in physics (1989) at the University of Saarland, Saarbruecken, Germany, he joined the Technical University RWTH Aachen in 1990 to work as a physics fessor. He then spent four years at several universities in Graz (Austria), Chemnitz, Aachen, Saarbruecken and Bochum (Germany). During his academic career, he authored 50 scientific publications on optical properties of nanoparticles, nanoparticle materials, and aerosols. In 2001, he joined the ETA-Optik GmbH, Germany, where he first worked in research and development of integrated optics components, and later became a product manager in the Colour and Coatings Division. During this period, he became expert in optical layer thickness determination. In 2007, he moved to FRT GmbH where he is responsible for the optical sensor technology division. He is the author of Optical Properties of Nanoparticle Systems: Mie and Beyond, Hardcover, 502 pages, Publisher: Wiley-VCH; 1 edition (March 15, 2011), ISBN10: 9783527410439, ISBN-13: 978-3527410439.
Schlagwörter
Analytical Chemistry, Analytische Chemie, Chemie, Chemistry, Dünne Schicht, Materials Science, Materialwissenschaften, Messen, Metrologie, Optical and Non-Linear Optical Materials, Optics & Photonics, Optik, Optik u. Photonik, Optische Messtechnik, Optische u. Nichtlineare Optische Materialien, Physics, Physik
Thema-Inhalt
PHJ - Optische Physik
Höhe
240 mm
Breite
17 cm
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