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Reaction Diffusion and Solid State Chemical Kinetics

V.I. Dybkov (Broschiert, Englisch)

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Beschreibung
Volume is indexed by Thomson Reuters BCI (WoS). This monograph deals with a physico-chemical approach to the problem of the solid-state growth of chemical compound layers and reaction-diffusion in binary heterogeneous systems formed by two solids; as well as a solid with a liquid or a gas. It is explained why the number of compound layers growing at the interface between the original phases is usually much lower than the number of chemical compounds in the phase diagram of a given binary system. For example, of the eight intermetallic compounds which exist in the aluminium-zirconium binary system, only ZrAl3 was found to grow as a separate layer at the Al–Zr interface under isothermal conditions. The physico-chemical approach predicts that, in most cases, the number of compound layers should not exceed two; with the main factor, resulting in the appearance of additional layers, being crack formation due to thermal expansion and volume effects.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
18.03.2010
Sprache
Englisch
EAN
9780878491568
Herausgeber
Trans Tech
Serien- oder Bandtitel
Materials Science Foundations
Sonderedition
Nein
Autor
V.I. Dybkov
Seitenanzahl
334
Einbandart
Broschiert
Bandzählung
67-68
Schlagwörter
Aluminium-Zirconium Binary System, Chemical Compound Layers, Corrosion, Crack Formation, Diffusion Reaction, Dissimilar Metals, Protective Coatings, Soldering, Solid State Chemical Kinetics, Solid State Chemistry, Thin-Film Electronics Technology, Welding
Thema-Inhalt
TGM - Materialwissenschaft
Höhe
240 mm
Breite
17 cm

Warnhinweise und Sicherheitsinformationen

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