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Hochauflösende Ladungsdetektion in Nanostrukturen und an dielektrischen Grenzschichten bei tiefen Temperaturen
Markus Vogel (Broschiert, Deutsch)
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
23.05.2007
Sprache
Deutsch
EAN
9783832515812
Herausgeber
Logos Berlin
Sonderedition
Nein
Autor
Markus Vogel
Seitenanzahl
148
Einbandart
Broschiert
Schlagwörter
Rasterkraftmikroskopie, Tieftemperatur, Ladungsdetektion, Halbleitertechnologie, Nanotechnologie
Höhe
210 mm
Breite
14.5 cm
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