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Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
03.03.1980
Sprache
Englisch
EAN
9783540098430
Herausgeber
Springer Berlin
Serien- oder Bandtitel
Springer Series in Chemical Physics
Sonderedition
Nein
Seitenanzahl
300
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Buch Untertitel
Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979
Bandzählung
9
Schlagwörter
Massenspektrometrie, Mass Spectrometry
Thema-Inhalt
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
PH - Physik
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