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Der Umwelt zuliebe
Probability and Statistics with Reliability, Queuing, and Computer Science Applications
Kishor Shridharbhai Trivedi (Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Beschreibung
An accessible introduction to probability, stochastic processes, and statistics for computer science and engineering applications
This updated and revised edition of the popular classic relates fundamental concepts in probability and statistics to the computer sciences and engineering. The author uses Markov chains and other statistical tools to illustrate processes in reliability of computer… systems and networks, fault tolerance, and performance.
This edition features an entirely new section on stochastic Petri nets?as well as new sections on system availability modeling, wireless system modeling, numerical solution techniques for Markov chains, and software reliability modeling, among other subjects. Extensive revisions take new developments in solution techniques and applications into account and bring this work totally up to date. It includes more than 200 worked examples and self-study exercises for each section.
Probability and Statistics with Reliability, Queuing and Computer Science Applications, Second Edition offers a comprehensive introduction to probability, stochastic processes, and statistics for students of computer science, electrical and computer engineering, and applied mathematics. Its wealth of practical examples and up-to-date information makes it an excellent resource for practitioners as well. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Erscheinungsdatum
09.11.2001
Sprache
Englisch
EAN
9780471333418
Herausgeber
John Wiley & Sons
Sonderedition
Nein
Autor
Kishor Shridharbhai Trivedi
Seitenanzahl
848
Auflage
2
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Autorenporträt
KISHOR S. TRIVEDI, PhD, is the Hudson Professor of Electrical and Computer Engineering at Duke University, Durham, North Carolina. His research interests include computer networks, fault-tolerant computing, modeling tools, and reliability modeling.
Schlagwörter
Angewandte Wahrscheinlichkeitsrechnung u. Statistik, Applied Probability & Statistics, Electrical & Electronics Engineering, Elektrotechnik, Elektrotechnik u. Elektronik, Engineering Statistics, Qualität u. Zuverlässigkeit, Quality & Reliability, Statistics, Statistik, Statistik in den Ingenieurwissenschaften, Wahrscheinlichkeitsrechnung
Thema-Inhalt
TJ - Elektronik, Nachrichtentechnik
Höhe
246 mm
Breite
16.2 cm
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