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Robust Design of DRAM Core Circuits
Yan Li (Unbekannter Einband, Englisch)
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Beschreibung
Die Ausbeute von DRAM Schaltungen gestaltet sich zunehmend schwieriger mit zunehmender Speicher dichte und immer kleiner werdenden Strukturgrößen. Basierend auf statistischen Methoden und einem analytischen, hierarchisch aufgebauten Schaltungsmodell wird in dieser Dissertation die elektrische Ausbeute von beliebigen DRAM Schaltungen analyisiert. Mit Hilfe dieses Modells kann die Ausbeute von DRAM… Schaltungen bezüglich Fläche, Versorgungsspannung, Zellenfeldarchitektur und Ungenauigkeiten der Verstärkerparameter optimiert werden. Mit den hier entwickelten Methoden können DRAM - Schaltungen robuster und flächeneffizienter realisiert werden. Diese Arbeit bietet damit einen Leitfaden für Ausbeute - optimiertes Design in zukünftigen DRAM Schaltungen mit hohen Speicherdichten. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
01.05.2011
Sprache
Englisch
EAN
9783832298456
Herausgeber
Shaker
Serien- oder Bandtitel
Selected Topics of Electronics and Micromechatronics /Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik
Sonderedition
Nein
Autor
Yan Li
Seitenanzahl
139
Auflage
1
Einbandart
Unbekannter Einband
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