Das Transmissionselektronenmikroskop (TEM) eignet sich in hervorragender Weise zur hochauflösenden Abbildung von magnetischen Strukturen in dünnen Schichten. Hierbei wechselwirkt der Elektronenstrahl mit der magnetischen Induktion in der Probe über die Lorentzkraft. Eine der möglichen Techniken zur Sichtbarmachung des magnetischen Kontrasts ist die Differentielle Phasenkontrastmikroskopie (DPC),… Mehr zeigen bei der der fokussierte Strahl über die Probe gerastert und mit einem speziellen Detektor registriert wird. DPC wird in der vorliegenden Arbeit zur Untersuchung magnetischer Ringstrukturen verwendet, welche mögliche Kandidaten für einen zukünftigen magnetischen RAM-Speicher (MRAM) sind. Besonders vielversprechend ist die neuentwickelte Möglichkeit, mit dem TEM im DPC-Modus Hysteresekurven von einzelnen magnetischen Strukturen im µm- und sub-µm-Bereich aufzunehmen. Weniger zeigen

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Produktinformationen

Technische Daten

Erscheinungsdatum

01.01.2005

Sprache

Deutsch

EAN

9783832507527

Herausgeber

Logos Berlin

Serien- oder Bandtitel

Applied Electron Microskopy - Angewandte Elektronenmikroskopie

Sonderedition

Nein

Autor

Thomas Uhlig

Seitenanzahl

120

Auflage

Einbandart

Broschiert

Bandzählung

Band 3

Schlagwörter

Elektronenmikroskopie, Lorentzmikroskopie, Mikromagnetismus, Magnetismus, Magnetische Abbildung

Höhe

210 mm

Breite

14.5 cm

Warnhinweise und Sicherheitsinformationen

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