iPhoneAlle anzeigen
iPhone 11iPhone 11 ProiPhone 11 Pro MaxiPhone 12iPhone 12 ProiPhone 12 Pro MaxiPhone 12 miniiPhone 13iPhone 13 ProiPhone 13 Pro MaxiPhone 13 miniiPhone 14iPhone 14 PlusiPhone 14 ProiPhone 14 Pro MaxiPhone 15iPhone 15 PlusiPhone 15 ProiPhone 15 Pro MaxiPhone 16iPhone 16 PlusiPhone 16 ProiPhone 16 Pro MaxiPhone 16eiPhone 8iPhone 8 PlusiPhone SE 2020iPhone SE 2022iPhone XiPhone XRiPhone XSiPhone XS Max
Galaxy A-SerieAlle anzeigen
Galaxy A12Galaxy A13Galaxy A13 5GGalaxy A14Galaxy A15Galaxy A16Galaxy A17Galaxy A17 5GGalaxy A20eGalaxy A21Galaxy A22Galaxy A23Galaxy A24Galaxy A25Galaxy A26 5GGalaxy A32Galaxy A33Galaxy A34Galaxy A35Galaxy A36 5GGalaxy A37Galaxy A40Galaxy A41Galaxy A42Galaxy A50Galaxy A51Galaxy A52Galaxy A53Galaxy A54Galaxy A55Galaxy A56 5GGalaxy A57 5GGalaxy A70Galaxy A71Galaxy A72
Redmi SeriesAlle anzeigen
Redmi 10Redmi 13CRedmi 15 5GRedmi Note 10Redmi Note 10 ProRedmi Note 11Redmi Note 11 ProRedmi Note 11 Pro Plus 5GRedmi Note 11sRedmi Note 12Redmi Note 12 5GRedmi Note 12 ProRedmi Note 12 Pro 5GRedmi Note 12 Pro PlusRedmi Note 13Redmi Note 13 5GRedmi Note 13 ProRedmi Note 13 Pro PlusRedmi Note 14Redmi Note 14 Pro PlusRedmi Note 15Redmi Note 15 5GRedmi Note 15 ProRedmi Note 15 Pro 5GRedmi Note 15 Pro Plus 5GRedmi Note 8Redmi Note 8 ProRedmi Note 9Redmi Note 9 Pro
- Startseite
Bücher Englische Bücher Wissen & Bildung Naturwissenschaft, Medizin, Informatik, Technik Technik Maschinenbau & Fertigungstechnik Surface Scattering Experiments with Conduction Electrons
Derzeit nicht verfügbar
Handgeprüfte Gebrauchtware
Bis zu 50 % günstiger als neu
Der Umwelt zuliebe
Surface Scattering Experiments with Conduction Electrons
Dieter Schumacher (Gebundene Ausgabe, Englisch)
★★★★★
☆☆☆☆☆ Keine Bewertungen vorhanden
Optischer Zustand
Beschreibung
Surface Scattering Experiments with Conduction Electrons
shows how this process can be used to investigate surface
processes of thin metal films. Since a thin film is in one
direction of a size comparable to the mean free path of the
conduction electrons, such a film is both substrate and
sensor and must be characterized by other surface-analytical
methodsas demonstrated here.… Also discussed is how the
dc-resistivity measurement permits the study of surface
processes such as adsorption, desorption, and surface
diffusion up to crystalline growth. The in situ observation
of epitaxial growth is additionally shown to be possible.
Thus the electronic structure of superimposed metal films
and superlattices can be elucidated. This is an essential
topic for all surface physicists. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
Handgeprüfte Gebrauchtware
Bis zu 50 % günstiger als neu
Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Erscheinungsdatum
08.12.1992
Sprache
Englisch
EAN
9783540561064
Herausgeber
Springer Berlin
Serien- oder Bandtitel
Springer Tracts in Modern Physics. Ergebnisse der exakten Naturwissenschaften
Sonderedition
Nein
Autor
Dieter Schumacher
Seitenanzahl
97
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Bandzählung
128
Schlagwörter
surface physics, Leitfähigkeit, interfaces and thin films, film, Oberflächenphysik, electronic structure, scattering, Dünne Schichten, electronic structure and electrical properties of surfaces, thin films, superlattices, surface, Elektronenstreuung
Thema-Inhalt
TGM - Materialwissenschaft
PNRX - Oberflächenchemie und Adsorption
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
-.-
★★★★★
☆☆☆☆☆ Leider noch keine Bewertungen
Leider noch keine Bewertungen
Sicher bei rebuy kaufen
Schreib die erste Bewertung für dieses Produkt!
Wenn du eine Bewertung für dieses Produkt schreibst, hilfst du allen Kund:innen, die noch überlegen, ob sie das Produkt kaufen wollen. Vielen Dank, dass du mitmachst!
Sicher bei rebuy kaufen