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Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope
R.F. Egerton (Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Beschreibung
to the Second Edition Since the first (1986) edition of this book, the numbers of installations, researchers, and research publications devoted to electron energy-loss spec troscopy (EELS) in the electron microscope have continued to expand. There has been a trend towards intermediate accelerating voltages and field-emission sources, both favorable to energy-loss spectroscopy, and sev eral types… of energy-filtering microscope are now available commercially. Data-acquisition hardware and software, based on personal computers, have become more convenient and user-friendly. Among university re searchers, much thought has been given to the interpretation and utilization of near-edge fine structure. Most importantly, there have been many practi cal applications of EELS. This may reflect an increased awareness of the potentialities of the technique, but in many cases it is the result of skill and persistence on the part of the experimenters, often graduate students. To take account of these developments, the book has been extensively revised (over a period of two years) and more than a third of it rewritten. I have made various minor changes to the figures and added about 80 new ones. Except for a few small changes, the notation is the same as in the first edition, with all equations in SI units. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
31.05.1996
Sprache
Englisch
EAN
9780306452239
Herausgeber
Springer US
Sonderedition
Nein
Autor
R.F. Egerton
Seitenanzahl
485
Auflage
2
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Schlagwörter
computing partial ionization cross-sections, electron microscope, EELS materials science book, materials science, Analytical Electron Microscopy book, spectroscopy, image-filtering systems, Inelastic scattering of electrons, microscopy, spectrum deconvolu
Thema-Inhalt
PS - Biologie, Biowissenschaften
PDN - Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken
PNF - Analytische Chemie
PHM - Atom- und Molekularphysik
TGMT - Werkstoffprüfung
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
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