Die Modelldiagnose in der linearen Regression und anderen statistischen Modellen entwickelt sich zu einem wirkungsvollen Instrument der Statistik mit originellen Ideen und Maßen. Der Sensitivitätsanalyse der klassischen Inferenz stellt der Autor Bayessche Ansätze gegenüber. Behandelt werden die Regressionsdiagnose, Diagnose in MCMC-Modellen und allgemeine Probleme der Modelldiagnose. Im… Mehr zeigen Mittelpunkt der neuen Forschungsergebnisse stehen Bayessche Ausreißertests und fortgeschrittene Ausreißermodelle. Weniger zeigen

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Produktinformationen

Technische Daten

Erscheinungsdatum

01.05.1999

Sprache

Deutsch

EAN

9783631346105

Herausgeber

Peter Lang GmbH, Internationaler Verlag der Wissenschaften

Serien- oder Bandtitel

Anwendungsorientierte Statistik

Sonderedition

Nein

Autor

Reinhard Vonthein

Seitenanzahl

149

Einbandart

Broschiert

Autorenporträt

Der Autor: Reinhard Vonthein wurde 1966 in Hamburg geboren. 1986 begann er mit dem Studium der Statistik an der Universität München. Nach dem Diplom 1993 folgte eine Anstellung an der Universität Basel. Promotion 1998.

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