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High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers

Vaclav Holy (Gebundene Ausgabe, Englisch)

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Beschreibung
This critical overview presents experimental methods for solving most frequent strucutral problems of mono-crystalline thin films and layered systems:thickness, crystalline state, strain distribution, interface quality and other properties. A unified theoretical approach based on kinematical and dynamical scattering theories describes the experimental methods. This book is a ready-to-hand reference for experimentalists who want to improve their knowledge on modern x-ray methods for thin-film analysis.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
11.12.1998
Sprache
Englisch
EAN
9783540620297
Herausgeber
Springer Berlin
Serien- oder Bandtitel
Springer Tracts in Modern Physics. Ergebnisse der exakten Naturwissenschaften
Sonderedition
Nein
Autor
Vaclav Holy
Seitenanzahl
258
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Bandzählung
149
Schlagwörter
Dispersion, scattering, crystal, diffraction, lattice parameter, thin films
Thema-Inhalt
PHJ - Optische Physik TTB - Angewandte Optik TGM - Materialwissenschaft PNRX - Oberflächenchemie und Adsorption PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik)
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
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