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Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV
(Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Beschreibung
This volume contains full proceedings of the Fourth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS-IV), held in the Minoo-Kanko Hotel, Osaka, Japan, from November 13th to 19th, 1983. Coordinated by a local or ganizing committee under the auspices of the international organizing com mittee, it followed earlier conferences held in MUnster (1977), Stanford (1979), and Budapest… (1981). The conference was attended by about 250 participants from 18 countries, and 130 papers including 24 invited ones were presented. Reflecting the rap idly expanding activities in the SIMS field, informative papers were pre sented containing up-to-date information on SIMS and various related fields. The proceedings focussed upon six main issues: (1) Fundamentals of sput tering and secondary ion formation. (2) Recent progress in instrumentation, including submicron SIMS and image processing. (3) SIMS combined with other surface analysis techniques. (4) Outstanding SIMS-related analytical methods such as laser-microprobe SIMS, sputtered neutral mass spectrometry, mass spectrometry of sputtered neutrals by multi-photon resonance ionization, and accelerator-based SIMS. (5) Organic SIMS and FAB which has recently become a rapidly expanding technique in pharmacy, biotechnology, etc. (6) Appl ica tions of SIMS to various fields such as metallurgy, geology, and biology, including depth profiling of semiconductors, and analysis of inorganic mate rials. As a venue for the exchange of ideas and information concerning all the above issues, the conference proved a great success. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
01.04.1984
Sprache
Englisch
EAN
9783540133162
Herausgeber
Springer Berlin
Serien- oder Bandtitel
Springer Series in Chemical Physics
Sonderedition
Nein
Seitenanzahl
506
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Buch Untertitel
Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13–19, 1983
Bandzählung
36
Schlagwörter
spectrometry, Sorption, microscopy, structure, Atom, spectroscopy, electron spectroscopy, crystal, semiconductor, hydrogen, catalyst, Diffusion, isotope, metals, mass spectrometry
Thema-Inhalt
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
PNR - Physikalische Chemie
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
PDN - Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken
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