Derzeit nicht verfügbar
Handgeprüfte Gebrauchtware
Bis zu 50 % günstiger als neu
Der Umwelt zuliebe
Langzeitstabilität von Cu(In,Ga)Se2-Dünnschichtsolarzellen
Thomas Ott (Unbekannter Einband, Deutsch)
Keine Bewertungen vorhanden
Optischer Zustand
Beschreibung
Das Ziel der vorliegenden Dissertation ist die Untersuchung der Langzeitstabilität von CIGS-Dünnschichtsolarzellen. Basis der Untersuchungen sind beschleunigte Alterungstests. Eine elementare Erkenntnis der beschleunigten Alterungstests war, dass das Verhalten bei tiefen Temperaturen im Ausgangszustand nach Dauertests bei Raumtemperatur auftritt. Eine Barriere am Rückkontakt wurde als ursächlicher Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
Handgeprüfte Gebrauchtware
Bis zu 50 % günstiger als neu
Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Erscheinungsdatum
17.07.2019
Sprache
Deutsch
EAN
9783736970380
Herausgeber
Cuvillier Verlag
Sonderedition
Nein
Autor
Thomas Ott
Seitenanzahl
146
Auflage
1
Einbandart
Unbekannter Einband
Schlagwörter
Heteroübergang, Admittance spectroscopy, Kennlinienverhalten, Endurance test, Parameterextraktion, Cu(In,Ga)Se2, p-n-junction, Barrier at the back contact, Kennlinienveränderungen, Degradation mechanism, CIGS solar cells, Parameterdriften, Langzeitstabilität, Low-temperature behaviour, heterojunction, Intensity dependent characteristics, Kupfer-Indium-Gallium-Diselenid, Back contact, p-n-Übergang, Stability, Doping profile, Temperature dependent characteristics, Long term stability, CIGS-Solarzellen, Phototransistormodells, Intensitätsabhängige Kennlinien, Copper-Indium-Gallium-Diselenide, Unilluminated and illuminated I-V characteristics, Kapazität-Spannungs-Charakteristik, Thin film solar cells, Spannungsinduzierte Veränderungen, Quantum efficiency, Admittanzspektroskopie, Stabilität, Degradationsmechanismus, Quantenausbeute, Accelerated aging test, Parameter drift, External quantum efficiency, Dunkel- und Hellkennlinie, Voltage induced changes, Intensitätsabhängigkeit, Intensity dependence, Punch-Through Effekt, Capacitance-voltage characteristics, Lifetime, Parameter extraction, Optimierung der Langzeitstabilität, Characteristic changes, Rückkontakt, CIGS, Punch-through effect, Tieftemperaturverhalten, Lebensdauer, Lifetime estimation, Temperaturabhängige Kennlinien, Phototransistor model, Dauertest, Externe Quantenausbeute, Strom-Spannungs-Charakteristik, beschleunigte Alterungstests, Current-voltage characteristics, Dünnschichtsolarzellen, Thin film technology, Optimation of the long term stability, Barriere am Rückkontakt, Dünnschichttechnologie, Lebensdauerkalkulation, Dotierungsprofil, CIS
Thema-Inhalt
THR - Elektrotechnik
Höhe
210 mm
Breite
14.8 cm
-.-
Leider noch keine Bewertungen
Leider noch keine Bewertungen
Sicher bei rebuy kaufen
Schreib die erste Bewertung für dieses Produkt!
Wenn du eine Bewertung für dieses Produkt schreibst, hilfst du allen Kund:innen, die noch überlegen, ob sie das Produkt kaufen wollen. Vielen Dank, dass du mitmachst!
Sicher bei rebuy kaufen