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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Mohsen Raji, Behnam Ghavami (Broschiert, Englisch)
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Beschreibung
This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling… approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits. 90,94 €
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
18.11.2023
Sprache
Englisch
EAN
9783031153471
Herausgeber
Springer International Publishing
Sonderedition
Nein
Autor
Mohsen Raji, Behnam Ghavami
Seitenanzahl
107
Einbandart
Broschiert
Schlagwörter
reliability of digital systems, reliability of nano-scale CMOS digital circuits, Reliability Analysis of Flip-Flops, Reliability of Nanometer VLSI Systems, Ageing of Integrated Circuits
Thema-Inhalt
TJFC - Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)
UKM - Eingebettete Systeme
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Transparenz & Sicherheit
Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH
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