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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Peter Baumann (Broschiert, Deutsch)
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Beschreibung
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück… gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgeführt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschließende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen, monokristallinen und Dünnschicht-Silizium-Solarzellen. 34,99 €
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
09.05.2024
Sprache
Deutsch
EAN
9783658438203
Herausgeber
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH
Sonderedition
Nein
Autor
Peter Baumann
Seitenanzahl
251
Auflage
4
Einbandart
Broschiert
Buch Untertitel
Simulation mit PSPICE
Schlagwörter
Elektrotechnik, Elektronik, Feldeffekttransistor, Halbleiterdiode, OrCAD-PSPICE, SPICE-Modellparameter, Sperrschicht-Feldeffekttransistor, Bipolartransistor, Transistor, Buch, Halbleiter, Bauelement, Optokoppler., Operationsverstärker, MOS-Feldeffekttransistor, Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor, FET, MOS-FET, Sperrschicht-Feldeffekttransistoren, Diode
Thema-Inhalt
TJF - Elektronik
THR - Elektrotechnik
TJFC - Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)
Höhe
240 mm
Breite
16.8 cm
Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, ProductSafety@springernature.com
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