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Der Umwelt zuliebe
Advanced Optical Spectroscopy Techniques for Semiconductors
Masanobu Yoshikawa (Broschiert, Englisch)
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Beschreibung
This book focuses on advanced optical spectroscopy techniques for the characterization of cutting-edge semiconductor materials. It covers a wide range of techniques such as Raman, infrared, photoluminescence, and cathodoluminescence (CL) spectroscopy, including an introduction to their physical fundamentals and best operating principles. Aimed at professionals working in the research and Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Erscheinungsdatum
25.03.2024
Sprache
Englisch
EAN
9783031197246
Herausgeber
Springer International Publishing
Sonderedition
Nein
Autor
Masanobu Yoshikawa
Seitenanzahl
223
Einbandart
Broschiert
Buch Untertitel
Raman, Infrared, and Cathodoluminescence Spectroscopy
Autorenporträt
Dr. Masanobu Yoshikawa completed his doctorate in applied spectroscopy with the Fourier transform infrared (FT-IR) and Raman spectroscopy at the Osaka University in 1986. After his analytical study of the one-dimensionally conducting metal-tetracyanoquinodimethanide (M-TCNQ) with FT-IR and Raman spectroscopy at the Osaka University, he joined Toray Research Center, Inc. in 1986, which is a leading analytical service company in Japan. He has mainly studied wide-gap semiconductors such as diamond, gallium nitride, silicon carbide, using FT-IR, Raman, and cathodoluminescence. He worked for Fraunhofer-Institute in Freiburg in Germany for 6 months in 1998. Furthermore, he has served as the Japanese national project leader for development of the world-first scanning near field Raman spectroscopy (SNOM) from 2003 to 2007, entrusted by New Energy and Industrial Technology Development Organization (NEDO) in Japan and succeeded in stress characterization of Si devices with a spatial resolution of less than 100 nm. As a result, he was awarded the Advance Analytical Instrument Development prize from the Japan Society for Analytical Chemistry (JAIMA) in 2010. He is working for Toray Research Center, Inc. as a senior vice-president and a senior fellow.
Schlagwörter
Scanning Electron Transmission Microscopy, Vibrational Spectroscopy, Gallium Arsenide Devices, Strained Silicon, Indium Phosphate Devices, Terahertz Time-Domain Spectroscopy, Crystal Orientation Characterization, Stress Determination Using Raman Spectroscopy, Michelson Interferometer, Scanning Near-Field Optical Microscopy, Characterization of Semiconductors, Spectroscopy of Semiconductors, Nano-Diamond Thin Films
Thema-Inhalt
TJFD - Elektronische Geräte und Materialien
TGMT - Werkstoffprüfung
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
TBN - Nanotechnologie
TGMM - Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien
THR - Elektrotechnik
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com
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