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Elastic and Inelastic Scattering in Electron Diffraction and Imaging

Zhong Lin Wang (Gebundene Ausgabe, Englisch)

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Beschreibung
This book provides an in-depth exploration of the physics underlying electron diffraction and imaging, with a focus on their applications in materials characterization. Originally published in 1995, the first edition systematically summarized various dynamic theories associated with quantitative electron microscopy and their applications in simulations of electron diffraction patterns and images. Since then, significant progress has been made in the field, necessitating this revised second edition. The second edition introduces new content, particularly emphasizing the diffraction and imaging of inelastically scattered electrons, a topic that has not been extensively covered in existing literature. This edition also includes updated theories and methodologies, reflecting the advancements in the field over the past decades. The book assumes that readers have a foundational understanding of electron microscopy, electron diffraction, and quantum mechanics. It aims to serve as a comprehensive guide for approaching phenomena observed in electron microscopy from the perspective of diffraction physics.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
02.11.2025
Sprache
Englisch
EAN
9783031908187
Herausgeber
Springer International Publishing
Serien- oder Bandtitel
Springer Series in Solid-State Sciences
Sonderedition
Nein
Autor
Zhong Lin Wang
Seitenanzahl
495
Auflage
2
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Schlagwörter
Elastic Electron Scattering, Inelastic Electron Scattering, Quantitative Electron Microscopy, Electron Diffraction Patterns, Bloch Wave Theory, Multislice Theory, Reflected High-Energy Electrons, Thermal Diffuse Scattering, Sub-Angstrom Electron Imaging, Thermal Diffusely Scattered Electrons, Correlated Point Defects, Multiple Inelastic Scattering
Thema-Inhalt
PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik) PHVN - Biophysik PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie PHM - Atom- und Molekularphysik PSA - Biowissenschaften, allgemein PN - Chemie
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Hersteller: Birkhäuser, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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