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Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces

Chia-Wei Chen (Broschiert, Englisch)

Optischer Zustand
Beschreibung
Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements…  on nonplanar surfaces.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
29.04.2025
Sprache
Englisch
EAN
9783731514022
Herausgeber
KIT Scientific Publishing
Serien- oder Bandtitel
Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung
Sonderedition
Nein
Autor
Chia-Wei Chen
Seitenanzahl
210
Auflage
1
Einbandart
Broschiert

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