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Radiation Tolerant Nyquist Analog to Digital Converters

Zheyi Li, Laurent Berti, Paul Leroux (Gebundene Ausgabe, Englisch)

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Beschreibung
This book presents the detailed design considerations and techniques for radiation-tolerant (RT) Nyquist analog-to-digital converters (ADC). It begins with the fundamental radiation effects in space and its consequences in modern CMOS technology. Next, radiation effects on ADCs from the transistor level to the architectural level are examined and a detailed design tradeoffs and strategies for radiation-tolerant ADCs are described. The theory and hardening techniques are supported by measurement data from a high-performance RT-ADC prototype chip. Two important flows, which are a technology evaluation flow and an RT IC design flow, are also covered, in order to give a complete overview on how to achieve an effective RT circuits design.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
02.10.2025
Sprache
Englisch
EAN
9783031955983
Herausgeber
Springer International Publishing
Serien- oder Bandtitel
Synthesis Lectures on Engineering, Science, and Technology
Sonderedition
Nein
Autor
Zheyi Li, Laurent Berti, Paul Leroux
Seitenanzahl
186
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Schlagwörter
Radiation-hard circuit design, radiation-tolerant circuit design, radiation-tolerant ADCs, radiation effects on Nyquist ADCs, Radiation-Hardening-by-Design
Thema-Inhalt
TJFC - Schaltkreise und Komponenten (Bauteile) UKM - Eingebettete Systeme TJF - Elektronik
Höhe
240 mm
Breite
16.8 cm

Hersteller: Birkhäuser, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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