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Bug Patterns in Java

Eric Allen (Unbekannter Einband, Englisch)

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Optischer Zustand
  • Sehr guter Zustand: leichte Gebrauchsspuren vorhanden
  • z.B. mit vereinzelten Knicken, Markierungen oder mit Gebrauchsspuren am Cover
  • Gut als Geschenk geeignet
Beschreibung
Author Eric Allen presents a methodology for diagnosing and debugging computer programs that puts emphasis on unit testing.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
01.09.2002
Sprache
Englisch
EAN
9781590590614
Herausgeber
APRESS
Sonderedition
Nein
Autor
Eric Allen
Seitenanzahl
264
Auflage
1
Einbandart
Broschiert
Autorenporträt
Eric Allen has a bachelor's degree in computer science and mathematics from Cornell University, and is a Ph.D. candidate in the Java programming languages team at Rice University. His research concerns the development of semantic models and static analysis tools for the Java language, both at the source and bytecode levels. Currently, Eric is constructing a compiler for the NextGen programming language, an extension of the Java language with added language features. He has also moderated the Java Beginner discussion forum at JavaWorld and is a project manager of DrJava, an open-source Java IDE designed for beginners.
Schlagwörter
Clean, Debugging, Java, design, design pattern, design patterns, development, programming, testing
Thema-Inhalt
UMX - Programmier- und Skriptsprachen, allgemein UMZ - Software Engineering
Höhe
235 mm
Breite
17.8 cm

Warnhinweise und Sicherheitsinformationen

Informationen nach EU Data Act

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