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Der Umwelt zuliebe
Transmission Electron Microscopy
David B. Williams, C. Barry Carter (Unbekannter Einband, Englisch)
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Beschreibung
Electron microscopy has revolutionized our understanding the extraordinary intellectual demands required of the mi of materials by completing the processing-structure-prop croscopist in order to do the job properly: crystallography, erties links down to atomistic levels. It now is even possible diffraction, image contrast, inelastic scattering events, and to tailor the microstructure (and meso… structure ) of materials spectroscopy. Remember, these used to be fields in them to achieve specific sets of properties; the extraordinary abili selves. Today, one has to understand the fundamentals ties of modem transmission electron microscopy-TEM of all of these areas before one can hope to tackle signifi instruments to provide almost all of the structural, phase, cant problems in materials science. TEM is a technique of and crystallographic data allow us to accomplish this feat. characterizing materials down to the atomic limits. It must Therefore, it is obvious that any curriculum in modem mate be used with care and attention, in many cases involving rials education must include suitable courses in electron mi teams of experts from different venues. The fundamentals croscopy. It is also essential that suitable texts be available are, of course, based in physics, so aspiring materials sci for the preparation of the students and researchers who must entists would be well advised to have prior exposure to, for carry out electron microscopy properly and quantitatively. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Erscheinungsdatum
31.10.1996
Sprache
Englisch
EAN
9780306453243
Herausgeber
Springer US
Sonderedition
Nein
Autor
David B. Williams, C. Barry Carter
Seitenanzahl
729
Auflage
6
Einbandart
Broschiert
Buch Untertitel
A Textbook for Materials Science
Schlagwörter
electron microscope, electron microscopy, diffraction, crystal, microscopy, transmission electron microscopy, Helium-Atom-Streuung, materials characterization
Thema-Inhalt
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
PDN - Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken
PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik)
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
TGMT - Werkstoffprüfung
PS - Biologie, Biowissenschaften
PDN - Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken
Höhe
279 mm
Breite
21 cm
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