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Bücher Wissen & Bildung Naturwissenschaft, Medizin, Informatik, Technik Technik Maschinenbau & Fertigungstechnik Atomic Force Microscopy: A Concise Introduction
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Atomic Force Microscopy: A Concise Introduction
Burnham, Nancy A (Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Beschreibung
Atomic force microscopy (AFM) provides a gateway to the nanoworld. While the operational principle of an AFM is simple, the complexity of data acquisition and understanding is surprisingly intricate. This book concisely guides newcomers to high-quality data and a sound scientific foundation for interpreting the results. The assumed background is that of first-year university-level mathematics and… physics. Part I of the book is focused on instrumentation, after which the reader should be able to confidently acquire topographic images from any AFM. Part II concentrates on force-curve acquisition and interpretation, through which relevant physics and materials-science concepts are developed. The last chapter of the book is more advanced, requiring familiarity with complex numbers and differential equations, to help the reader understand resonance-based AFM techniques. The text with its learning objectives and homework problems, in conjunction with online videos and an electronic instructional supplement, can be used for self-study, as the basis for a workshop, or as the main textbook for a course. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Sprache
Englisch
EAN
9789819823093
Herausgeber
World Scientific Publishing Company
Autor
Burnham, Nancy A
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Einbandart Details
Fadenbindung
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