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Integrated Circuit Test Engineering

Ian A. Grout (Unbekannter Einband, Englisch)

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Beschreibung
Taking a three-pronged approach – test engineering from traditional-test, design and manufacturing view-points – Integrated Circuit Test Engineering encapsulates the subject as it stands today. After introductory background from basic testing rules to trends in technology, the reader learns about: fabrication processes; a complete range of detailed tests and procedures; how to design for testability; fault simulation; automatic test equipment and the economics of testing. The text incudes: • Worked examples and exercises, well-organized references and bibliography. • An introduction to the use of various software and languages such as MATLAB®, Spice, Verilog®-HDL and VHDL. • A series of experiments based on material downloaded from springeronline.com showing how to construct a hardware test arrangement for MS Windows PCs. This book is a practical tool for advanced undergraduate and graduate electronic engineering students, a resource for their tutors and a guide for the practising electronic engineer.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
22.08.2005
Sprache
Englisch
Originalsprache
Englisch
EAN
9781846280238
Herausgeber
Springer London
Sonderedition
Nein
Autor
Ian A. Grout
Seitenanzahl
362
Auflage
1
Einbandart
Broschiert

Transparenz & Sicherheit

Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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