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Atomic Force Microscopy and Atomic Manipulation

Franz J. Giessibl (Gebundene Ausgabe, Englisch)

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Optischer Zustand
Beschreibung
What does it take to see a single atom — or to pick one up and move it? This book takes the reader to the frontier of the very small: atomic force microscopy at its ultimate resolution, force spectroscopy on individual bonds, and the use of the probe tip to manipulate matter atom by atom. It develops both the experimental technique and the underlying theory, examining the origins of interatomic forces and the challenge of measuring them against ubiquitous noise — and the strategies that push the signal-to-noise ratio to its limits. Many key historical experiments and the pioneers behind them are described, revealing how the founding fathers of nanoscience ventured into territory no one had entered before.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
15.09.2026
Sprache
Englisch
EAN
9783032322012
Herausgeber
Springer International Publishing
Sonderedition
Nein
Autor
Franz J. Giessibl
Seitenanzahl
423
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Buch Untertitel
An Inquiry into Matter
Schlagwörter
Chemical Bonding, Atomic Resolution, Subatomic Resolution, Ultralow Forces, qPlus Sensor, Van Der Waals Forces, Imaging, Artifacts, Research Approaches, Nobel laureates, Atomic Force Microscopy, Force Sensing, Exchange Forces, Pauli Repulsion
Thema-Inhalt
TGM - Materialwissenschaft TGMT - Werkstoffprüfung PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik) PDD - Wissenschaftliche Standards, Normung usw.
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Transparenz & Sicherheit

Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com

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