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Impurities and Defects in Group IV Elements and III-V Compounds / Störstellen und Defekte in Elementen der IV. Gruppe und III-V-Verbindungen
C.A.J. Ammerlaan (Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Beschreibung
Subvolume III/22b of the Landolt-Börnstein New Series presents a comprehensive data compilation on defects and impurities in the elemental semiconductors and in the III-V compounds. Data on semiconductor defects were already included in the extended data collection on semiconductors in volumes III/17a...i. Research on semiconductor defects and impurities, however, advanced so rapidly during recent… years that a new subvolume on this important topic seemed desirable. The information given in subvolume III/22b ranges from trends on defect properties as predicted by theory and a survey of diagnostic techniques to extensive tables and graphical representations of defect properties. The editor and the authors have endeavoured to find a unified form and to critically select the important and reliable information from the wide range of published data. Discussions of ambiguous results or textbook style explanations are avoided. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
12.12.1989
Sprache
Englisch
EAN
9783540179177
Herausgeber
Springer Berlin
Serien- oder Bandtitel
Landolt-Börnstein: Numerical Data and Functional Relationships in Science and Technology - New Series
Sonderedition
Nein
Autor
C.A.J. Ammerlaan
Seitenanzahl
776
Auflage
1
Einbandart
Gebundene Ausgabe
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