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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Brent Fultz, James Howe (Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Sehr guter Zustand: leichte Gebrauchsspuren vorhanden z.B. mit vereinzelten Knicken, Markierungen oder mit Gebrauchsspuren am Cover Gut als Geschenk geeignet
Beschreibung
This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover neu 96,25 € -87 %*
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
11.10.2007
Sprache
Englisch
EAN
9783540738855
Herausgeber
Springer Berlin
Sonderedition
Nein
Autor
Brent Fultz, James Howe
Seitenanzahl
758
Auflage
3
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Schlagwörter
PES, diffraction, spectroscopy, transmission electron microscopy, electron diffraction, Crystallography, STEM, microscopy, electron microscopy, crystal, REM
Thema-Inhalt
TGMT - Werkstoffprüfung
TGM - Materialwissenschaft
PNRX - Oberflächenchemie und Adsorption
PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik)
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
PDN - Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken
TBC - Ingenieurswesen, Maschinenbau allgemein
Inhaltsverzeichnis
Diffraction and the X-Ray Powder Diffractometer.- The TEM and Its Optics.- Scattering.- Inelastic Electron Scattering and Spectroscopy.- Diffraction from Crystals.- Electron Diffraction and Crystallography.- Diffraction Contrast in TEM Images.- Diffraction Lineshapes.- Patterson Functions and Diffuse Scattering.- High-Resolution TEM Imaging.- High-Resolution STEM Imaging.- Dynamical Theory.
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
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