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Scanning Electron Microscopy of Plastics Failure
Gottfried W. Ehrenstein, Lothar Engel, Hermann Klingele, Helmut Schaper (Gebundene Ausgabe, Deutsch)
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Beschreibung
Der Einsatz von Rasterelektronenmikroskopen (REM) erweitert den Erkenntnisbereich für die Schadensforschung ganz wesentlich. Die hohen, mit REM erzielbaren Auflösungen in Brüchen und Oberflächenstrukturen lassen die Mechanik der Schädigungsvorgänge deutlicher erkennen. In Verbindung mit den Untersuchungsergebnissen über die chemische Zusammensatzung von Werkstoffen und Belägen können weitere… Aufschlüsse über Schädigungsmechanismen gewonnen werden.
Diese umfangreiche Sammlung von REM Aufnahmen und ihren Beschreibungen ist ein wertvolles Hilfsmittel für den Ingenieur im Betrieb, der Ursachen von Schäden auffinden und sein spezielles REM Schadensbild einordnen will. Die Erscheinungsformen der Schädigungen sind ausführlich dargestellt und werden sachgerecht beschrieben und interpretiert. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
04.11.2010
Sprache
Deutsch
Originalsprache
Deutsch
EAN
9783446422421
Herausgeber
Hanser, Carl
Sonderedition
Nein
Autor
Gottfried W. Ehrenstein, Lothar Engel, Hermann Klingele, Helmut Schaper
Seitenanzahl
272
Auflage
1
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Hersteller: Carl Hanser Verlag GmbH & Co.KG, Vilshofener Straße 10, München, Deutschland, 81679, info@hanser.de
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