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Physical Principles of Electron Microscopy
R.F. Egerton (Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Beschreibung
Scanning and stationary-beam electron microscopes have become an indespensible tool for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences. This book provides an introduction to the theory and current practice of electron microscopy, aimed primarily at undergraduates who need to learn how the… basic principles of physics are applied in an important area of science and technology that has contributed greatly to our knowledge of life processes and "inner space." However, it will be equally valuable for technologists who make use of electron microscopes and for graduate students, university teachers and researchers who need a concise text that deals with the basic principles of microscopy. Less technical but broader in scope than other microscopy textbooks, Physical Principles of Electron Microscopy is appropriate for undergraduates and technologists with limited mathematical training. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
01.05.2008
Sprache
Englisch
EAN
9780387258003
Herausgeber
Springer US
Sonderedition
Nein
Autor
R.F. Egerton
Seitenanzahl
202
Auflage
1
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Buch Untertitel
An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Schlagwörter
Microscopy, Monochromator, Transmission, X-ray Emission Spectroscopy, crystal, diffraction, electron microscope, electron microscopy, nanotechnology, optical microscope, optics, scanning electron microscope, scanning transmission electron microscope, spectroscopy, transmission electron microscopy, Biological Microscopy
Thema-Inhalt
TGMT - Werkstoffprüfung
TBN - Nanotechnologie
PHVN - Biophysik
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, ProductSafety@springernature.com
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