Technische Daten
Erscheinungsdatum
19.03.2003
Herausgeber
Springer Berlin
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Buch Untertitel
An Introduction
Schlagwörter
Bayesian analysis, Data Mining, Intelligent Data Analysis, Machine Learning, Neuro-Fuzzy Data Analysis, Statistical Data Analysis, data visualization, fuzzy logic, inductive logic programming, multi-variate Analysis, statistical inference, statistical learning, time series analysis, artificial intelligence, data analysis, intelligence, kernel, logic, neural networks, Support Vector Machine
Thema-Inhalt
UYQP - Mustererkennung
PBT - Wahrscheinlichkeitsrechnung und Statistik
UNH - Informationsrückgewinnung, Information Retrieval
UND - Data Warehousing
UYQ - Künstliche Intelligenz
UYAM - Mathematik für Informatiker
UNF - Data Mining
UYQE - Wissensbasierte Systeme, Expertensysteme
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