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Der Umwelt zuliebe
Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
Terry L. Alford, L.C. Feldman, James W. Mayer (Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Beschreibung
Modern science and technology, from materials science to integrated circuit development, is directed toward the nanoscale. From thin films to field effect transistors, the emphasis is on reducing dimensions from the micro to the nanoscale. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis concentrates on analysis of the structure and composition of the surface and the outer few tens to hundred nanometers in Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
16.02.2007
Sprache
Englisch
EAN
9780387292601
Herausgeber
Springer US
Sonderedition
Nein
Autor
Terry L. Alford, L.C. Feldman, James W. Mayer
Seitenanzahl
336
Auflage
1
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Schlagwörter
EXAFS, REM, diffraction, electron diffraction, integrated circuit, microscopy, spectroscopy
Thema-Inhalt
TGMT - Werkstoffprüfung
TGM - Materialwissenschaft
TBN - Nanotechnologie
PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik)
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
Inhaltsverzeichnis
An Overview: Concepts, Units, and the Bohr Atom.- Atomic Collisions and Backscattering Spectrometry.- Energy Loss of Light Ions and Backscattering Depth Profiles.- Sputter Depth Profiles and Secondary Ion Mass Spectroscopy.- Ion Channeling.- Electron-Electron Interactions and the Depth Sensitivity of Electron Spectroscopies.- X-ray Diffraction.- Electron Diffraction.- Photon Absorption in Solids and EXAFS.- X-ray Photoelectron Spectroscopy.- Radiative Transitions and the Electron Microprobe.- Nonradiative Transitions and Auger Electron Spectroscopy.- Nuclear Techniques: Activation Analysis and Prompt Radiation Analysis.- Scanning Probe Microscopy.
Höhe
235 mm
Breite
15.6 cm
Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com
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