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Best of New York - 66 Highlights

Thomas Jeier (Gebundene Ausgabe, Deutsch)

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Beschreibung
BEST OF … ist eine Bildbandreihe professionell fotografiert von renommierten Reisefotografen -- - - Bis zu 200 Bilder auf 140 Seiten - - - Sehr gutes Preis-Leistungs-Verhältnis - - - Die 66 wichtigsten Sehenswürdigkeiten einer Destination vorgestellt in Wort und Bild - - - Kenntnisreiche Texte - - - Ausführliche Bildunterschriften - - - Farbiger Lageplan zu jedem Highlight - - - Detailliertes Register und Übersichtskarte - - - GPS-Daten zum leichteren Auffinden der Highlights
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
28.12.2013
Sprache
Deutsch
EAN
9783800349005
Herausgeber
Stürtz
Serien- oder Bandtitel
Best of - 66 Highlights
Sonderedition
Nein
Autor
Thomas Jeier
Seitenanzahl
140
Auflage
1
Einbandart
Gebundene Ausgabe

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