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Introduction to Focused Ion Beams

(Taschenbuch, Englisch)

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Beschreibung

Introduction to Focused Ion Beams is geared towards techniques and applications. This is the only text that discusses and presents the theory directly related to applications and the only one that discusses the vast applications and techniques used in FIBs and dual platform instruments.

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Produktinformationen

Technische Daten

Erscheinungsdatum

29.10.2010

Sprache

Englisch

EAN

9781441935748

Herausgeber

Springer US

Sonderedition

Nein

Seitenanzahl

357

Einbandart

Taschenbuch

Einbandart Details

Trade Paperback (US)

Buch Untertitel

Instrumentation, Theory, Techniques and Practice

Schlagwörter

SIMS, instruments, material, microscopy, spectroscopy

Thema-Inhalt

PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik) TGM - Materialwissenschaft TGMM - Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie

Höhe

235 mm

Breite

15.5 cm

Hersteller: Springer Us, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

Warnhinweise und Sicherheitsinformationen

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