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High-Resolution X-Ray Scattering
Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach (Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Beschreibung
During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the… individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Erscheinungsdatum
27.08.2004
Sprache
Englisch
EAN
9780387400921
Herausgeber
Springer US
Serien- oder Bandtitel
Advanced Texts in Physics
Sonderedition
Nein
Autor
Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach
Seitenanzahl
408
Auflage
2
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Transparenz & Sicherheit
Hersteller: Springer Nature B.V., ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH
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