Handgeprüfte Gebrauchtware
Bis zu 50 % günstiger als neu
Der Umwelt zuliebe
Optischer Zustand
Beschreibung
This book presents and introduces ellipsometry in nanoscience and nanotechnology making a bridge between the classical and nanoscale optical behaviour of materials. It delineates the role of the non-destructive and non-invasive optical diagnostics of ellipsometry in improving science and technology of nanomaterials and related processes by illustrating its exploitation, ranging from fundamental 320,99 €
Taschenbuch | Neu
oder
zzgl.
Du kannst wie immer einen Kaufalarm setzen, wenn du auf das gebrauchte Buch warten möchtest.
zzgl.
Handgeprüfte Gebrauchtware
Bis zu 50 % günstiger als neu
Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Erscheinungsdatum
23.08.2016
Sprache
Englisch
EAN
9783662519714
Herausgeber
Springer Berlin
Sonderedition
Nein
Seitenanzahl
730
Auflage
Softcover reprint of the original 1st edition 2013
Einbandart
Taschenbuch
Schlagwörter
Correlation measurements, Kerr Spectroscopy, Plasmonics theory, Polarimetry, Polarized light
Thema-Inhalt
TJF - Elektronik
PDD - Wissenschaftliche Standards, Normung usw.
TGMT - Werkstoffprüfung
TBN - Nanotechnologie
Inhaltsverzeichnis
Preamble.- Preface.- A Brief History and State of the Art of Ellipsometry.-Advanced Mueller Ellipsometry Instrumentation and Data Analysis.- Data Analysis for Nanomaterials: Effective Medium Approximation, its Limits and Implementations.- Relationship between Surface Morphology and Effective Medium Roughness.- Plasmonics and Effective-Medium Theory.- Thin films of Nanostructured Plasmonic Noble Metals.- Spectroscopic Ellipsometry on Metallic Gratings.- Mueller matrix applied to nanostructures.- Spectroscopic Ellipsometry and Magneto-Optical Kerr Spectroscopy of Magnetic Garnet Thin Films Incorporating Plasmonic Nanoparticles.- Generalized Ellipsometry Characterization of Sculptured Thin Films made by Glancing Angle Deposition.- THz Generalized Ellipsometry characterization of highly-ordered 3-dimensional Nanostructures.- Infrared ellipsometric investigations of free carriers and lattice vibrations in superconducting cuprates.- Real-time Ellipsometry for Probing charge-transfer processes at the nanoscale.- Polarimetric and other Optical Probes for the Solid - Liquid Interface.- Spectroscopic Ellipsometry for functional nano-layers of flexible organic electronic devices.- Spectroscopic Ellipsometry of Nanoscale Materials for Semiconductor Device Applications.- Ellipsometry of semiconductor nanocrystals.- Spectroscopic Ellipsometry for Inline Process Control in the Semiconductor Industry.- Thin film applications in research and industry characterized by spectroscopic ellipsometry.- Ellipsometry and Correlation Measurements.- Nanotechnology: Applications and markets, present and future.
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Transparenz & Sicherheit
Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH
-.-
Leider noch keine Bewertungen
Leider noch keine Bewertungen
Sicher bei rebuy kaufen
Schreib die erste Bewertung für dieses Produkt!
Wenn du eine Bewertung für dieses Produkt schreibst, hilfst du allen Kund:innen, die noch überlegen, ob sie das Produkt kaufen wollen. Vielen Dank, dass du mitmachst!
Sicher bei rebuy kaufen