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Ellipsometry at the Nanoscale

(Gebundene Ausgabe, Englisch)

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Beschreibung
This book presents and introduces ellipsometry in nanoscience and nanotechnology making a bridge between the classical and nanoscale optical behaviour of materials. It delineates the role of the non-destructive and non-invasive optical diagnostics of ellipsometry in improving science and technology of nanomaterials and related processes by illustrating its exploitation, ranging from fundamental studies of the physics and chemistry of nanostructures to the ultimate goal of turnkey manufacturing control. This book is written for a broad readership: materials scientists, researchers, engineers, as well as students and nanotechnology operators who want to deepen their knowledge about both basics and applications of ellipsometry to nanoscale phenomena. It starts as a general introduction for people curious to enter the fields of ellipsometry and polarimetry applied to nanomaterials and progresses to articles by experts on specific fields that span from plasmonics, optics, to semiconductors and flexible electronics. The core belief reflected in this book is that ellipsometry applied at the nanoscale offers new ways of addressing many current needs. The book also explores forward-looking potential applications.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
28.03.2013
Sprache
Englisch
EAN
9783642339554
Herausgeber
Springer Berlin
Sonderedition
Nein
Seitenanzahl
730
Auflage
1
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Schlagwörter
Correlation measurements, Kerr Spectroscopy, Plasmonics theory, Polarimetry, Polarized light
Thema-Inhalt
TJF - Elektronik PDD - Wissenschaftliche Standards, Normung usw. TGMT - Werkstoffprüfung TBN - Nanotechnologie
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Transparenz & Sicherheit

Hersteller: Springer Gabler, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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